در هفته ملی پژوهش و فناوری صورت پذیرفت؛
رونمایی از دستاورد فناوران پارک علم و فناوری دانشگاه تحصیلات تکمیلی علوم پایه زنجان
به گزارش اداره کل روابط عمومی وزارت علوم به نقل از دانشگاه تحصیلات تکمیلی علوم‌پایه زنجان، دستگاه سطح‌سنج سه‌بعدی نانومتری نوری ساخته شده توسط شرکت دانش‌بنیان فتح نور میهن، نمونه‌ای بسیار توسعه‌یافته از ابزارهای اندازه‌گیری سه‌بعدی در مقیاس نانو بر پایه اپتیک است. این دستگاه براساس پدیده تداخل و در دو مد تداخل‌سنجی میکروسکوپی نورسفید و تداخل‌سنجی جابجایی فاز عمل کرده و شکل و ناصافی سطوح را با دقت نانومتر اندازه‌گیری می‌کند. از آن‌جایی که دستگاه سطح‌سنج سه‌بعدی نانومتری بر اساس نور کار می‌کند، روشی غیرتماسی، غیرمخرب و دقیق است و در مقایسه با دستگاه‌های با کاربری مشابه از هزینه کمتری برخوردار است. سرعت بالا، دقت و تکرارپذیری نانومتری از دیگر ویژگی‌های این محصول است. خروجی این دستگاه، ابر نقاط (رویه‌ی سه‌بعدی) از نمونه مورد آزمون، پارامتراهای سطح (شکل، میزان موج‌دار بودن و زبری) با دقت نانومتری است. تعیین پارامترهای سطوح در بخش‌های متنوعی از علوم و صنایع نیاز است. به عنوان مثال علوم مکانیک، زیست‌شناسی، فیزیک و میکروالکترونیک نیاز مبرمی به این دستگاه برای تصویربرداری سه‌بعدی از نمونه‌های خود دارند. همچنین این دستگاه در صنایعی مانند متالورژی، مکانیک و صنایع تولید هواپیما، خودرو و توربین‌های بخار که بررسی خوردگی و ترک در قطعات آن‌ها از اهمیت ویژه ای برخوردار است، کاربرد دارد. با توجه به سطح بالای فناوری مورد استفاده، این دستگاه در کشورهای معدودی از جمله آمریکا و آلمان تولید و به بازار عرضه می‌شود. دستگاه ساخته شده در شرکت دانش‌بنیان فتح نور میهن، کامل‌ترین و دقیق‌ترین دستگاه از نوع خود در داخل کشور و منطقه است و از کیفیت و قیمت بسیار رقابتی در مقایسه با نمونه‌های مشابه خارجی برخوردار است.
همچنین مزیت رقابتی دستگاه سطح‌سنج نانومتری نوری ساخت شرکت دانش‌بنیان فتح نور میهن را نسبت به دیگر دستگاه‌ها مانند AFM و انواع میکروسکوپ‌های روبشی تماسی که شامل: غیرتماسی و غیرمخرب بودن، تعیین رویه سه‌بعدی نمونه به صورت یک‌جا، تعیین سه‌بعدی عوارضی مانند شکستگی‌ها، پله‌ها و تغییرات تند ارتفاعی در نمونه، تعیین دینامیک سه‌بعدی نمونه‌ها، سرعت داده‌برداری بالا نسبت به دیگر محصولات مشابه، تعیین شکل، موج‌دار بودن و زبری سطح نمونه با دقت نانومتری و قابلیت داده‌برداری از نمونه در حالت بازتابی حتی از نمونه‌های با بازتابندگی کم را می‌توان خلاصه کرد.
گفتنی است ابزارهای اندازه‌گیری در مقیاس نانو به طور کلی بر دو پایه الکترونیک و اپتیک طراحی و ساخته می‌شوند. از میان میکروسکوپ‌هایی که بر پایه الکترونیک طراحی شده‌اند، می‌توان به میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) و میکروسکوپ روبشی اشاره کرد، که علی‌رغم ویژگی‌هایی که دارند با مشکلات تخریب‌کنندگی، سرعت پایین، وسعت دید پایین و هزینه بالا مواجه هستند. در مقابل، فناوری اندازه‌گیری بر پایه اپتیک ویژگی‌های سرعت بالا، وسعت دید بالا و دقت بالا را به طور همزمان دارا است. همچنین این روش کاملاً غیرمخرب بوده، هیچ آسیبی به قطعه مورد اندازه‌گیری وارد نمی‌کند و می‌تواند تغییرات ارتفاعی تند را نیز اندازه‌گیری کند.
ل.س ۴۲/ ل.م ۵۴